用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X荧光光谱仪。由于X荧光具有一定波长，同时又有一定能量，因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型和能量色散型。

台式X荧光光谱仪 能量色散X荧光光谱仪是利用荧光X射线具有不同能量的特点，将其分开并检测，不必使用分光晶体，而是依靠半导体探测器来完成。这种半导体探测器有锂漂移硅探测器，锂漂移锗探测器，高能锗探测器等。X光子射到探测器后形成一定数量的电子-空穴对，电子-空穴对在电场作用下形成电脉冲，脉冲幅度与X光子的能量成正比。在一段时间内，来自试样的荧光X射线依次被半导体探测器检测，得到一系列幅度与光子能量成正比的脉冲，经放大器放大后送到多道脉冲分析器（通常要1000道以上）。按脉冲幅度的大小分别统计脉冲数，脉冲幅度可以用X光子的能量标度，从而得到计数率随光子能量变化的分布曲线，即X光能谱图。能谱图经计算机进行校正，然后显示出来，其形状与波谱类似，只是横座标是光子的能量。 能量色散的最大优点是可以同时测定样品中几乎所有的元素。因此，分析速度快。另一方面，由于能谱仪对X射线的总检测效率比波谱高，因此可以使用小功率X光管激发荧光X射线。另外，能谱仪没有光谱仪那么复杂的机械机构，因而工作稳定，仪器体积也小。缺点是能量分辨率差，探测器必须在低温下保存。对轻元素检测困难。

X射线荧光光谱仪作为应用较为广泛的检测仪器，被很多企业所应用，本文我们就X射线荧光光谱仪的分光系统做简单讲解。

进行x荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。无论什么样品，样品制备的情况对与X荧光光谱仪检测结果影响很大。对金属样品要注意成份偏析产生的误筹；化学组成相同，热处理过程不同的样品，得到的计数率也不同；成份不均匀的金属试样要重熔，快速冷却后车成圆片；对表面不平的样品要打磨抛光；对于粉末样品，要研磨至300目一400目，然后压成圆片，也可以放人样品槽中测定。对于固体样品如果不能得到均匀平整的表面，则可以把试样用酸溶解，再沉淀成盐类进行测定。对于液态样品可以滴在滤纸上，用红外灯蒸干水份后测定，也可以密封在样品槽中。总之，使用X荧光光谱仪时所测样品不能含有水、油和挥发性成份，更不能含有腐蚀性溶剂。

X射线荧光光谱分析是用于高压隔离开关触头表面金属成分检测的一种非常有效的分析方法，具有快速、分析元素多、分析浓度范围宽、精度高、可同时进行多元素分析、无损检测等优点，被广泛应用于元素分析和化学分析领域。其原理为：由激发源产生高能量X射线照射被测样品，样品表面元素内层电子被击出后，轨道形成空穴，外层高能电子自发向内层空穴跃迁，同时辐射出特征二次X射线。每种元素都有各自固定的能量或波长特征谱线，具体与元素的原子序数有关。检测器测量这些二次X射线的能量及数量或波长，仪器软件将收集到的信号转换成样品中各种元素的种类和含量。

能量色散X射线荧光光谱仪体系如今具有许多不同的配置规格，既有台式配置的，又有便携、手持式配置的。X射线荧光光谱是一种常用的光谱技术，既可用于材料的组成成分分析，又可用于涂层和多层薄膜厚度的测量等。与所有的分析仪器一样，在做出购买决定前应当考虑许多因素，例如应用领域等细节。所以，本文将着重讨论在选择一套用于测量薄层材料厚度的X射线荧光光谱仪体系时应当考虑的一些重要因素，讨论的对象主要为能量色散X射线荧光光谱仪体系（EDXRF），这种体系如今已经具有许多不同的配置规格，既有台式配置的，又有便携的、手持式配置的。

X荧光光谱仪可分为三类，一类是偏振式能量色散X荧光光谱仪ED(P)-XRF、波长色散型(WD-XRF)X射线荧光光谱仪与能量色散型(ED-XRF)X射线荧光光谱仪三种，他们无论是在原理上还是在仪器结构或者是功能上都有所不同。下面我们就三类仪器的区别作简单对比。

在地下操作时，手持式X荧光光谱仪可直接对表面分析。关键的要素是要对多个样品进行分析，进行结果平均，以获得合理的给定区域的状况。瞬时数据帮助人们预测碾磨流入的品位，调配高品位和低品位，以保证碾磨达到最高效率。当区分品位很具有挑战时，就要收集样品，做成浆状，以获得更准确的结果

X 射线荧光实际上又是一个表面分析方法，激发只发生在试样的浅表面，必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。此外，样品的平均粒度和粒度分布是否有变化，样品中是否存在不均匀的多孔状态等。样品制备过程由于经过多步骤操作，还必须防止样品的损失和沾污。

有些人在X射线荧光光谱分析的使用中，存在一些认识上的误区，对我们的仪器使用及仪器效能的发挥起到了负面的作用，有些还对仪器的使用寿命产生了影响。由于X射线荧光的能量比较大，样品被激发后，产生的特征X射线极易被吸收，而从样品中发射出来的荧光很少，也即是荧光产额很少。因此采用X荧光光谱仪测量微量元素，不是特长，因此不要把精力过分地放在低含量元素分析上。 同理，对于轻元素，如硼、碳、氮、氧等，也不要指望有多好的检出限；但对于高含量的轻元素分析，却有很高的精度。本人曾分析生铁中3%左右的碳，标准偏差不超过0.1%；分析钼铁中60%左右的钼，误差不超过0.2%；分析硅石中90%左右的二氧化硅的含量，误差不超过0.3%等。而对微量元素，镁的检量限，低于0.01%，峰几乎没有了；钠，低于0.05%，峰也没了，连强度都没了还怎么测？由此说明X荧光光谱仪适合于高含量分析，而不适合微量元素的分析。

谱仪是将成分复杂的光分解为光谱线的科学仪器，利用它可测量物体表面反射的光线。由于光谱检测技术具有快速无损、特征性强的特点，与现有的光谱技术结合，能够构建更有力的商品质量检测和金属冶炼省钱省力。 内蒙古双利矿业有限公司使用了我公司直读光谱仪是希望产品质量更上一层楼。

先从现场环境的角度进行考量。有条件搭建实验室进行分析，还是需要在厂房中现场分析，亦或是得在户外进行检测作业，直接决定了您应该选择的仪器。 直读光谱仪从便携性上，又可以分为两种，一种是台式或者落地式的实验室仪器，另一种是搭配小推车的便携式直读光谱仪。落地式或者台式直读光谱仪仅能在实验室内使用，环境温度波动不能太大，会严重影响检测效果；便携式直读光谱仪和手持式光谱仪可以更好的胜任厂房中或者是户外的检测工作。

手持式光谱仪是光谱分析仪器的一款手持式仪器。是根据物质的光谱来鉴别物质，确定它的化学组成和相对含量，是一种灵敏快速的分析方法。生产过程的各个环节中，为了把控质量，保证成品符合出厂和验收要求，都离不开实时的化学成分检测。采用光谱分析能够紧凑有效的提供关键参数，及时发现生产过程中的预期外偏差并进行修正。 那么企业究竟如何选择合适的光谱分析仪器来配合生产制造呢?小编特意整理了一些需要特别注意的点，希望能帮到大家。

直读光谱仪和ICP都属于发射光谱分析仪器,区别在于他们的激发方式不同,ICP中文名字是电感耦合等离子体,是通过线圈磁场达到高温使样品的状态呈等离子态然后进行测量的,而普通的直读光谱仪一般采用电火花,电弧或者放电的方式把样品打成蒸汽进行激发的,在效果上ICP要比普通直读光谱仪器的检出限小,精度高,但是在进样系统上要求非常严格,没有好的进样系统就只能做溶液样品.国外先进ICP可以做固体样品.

CX-9900移动式直读光谱仪，采用了以往只在实验室仪器上才使用的光学系统，经过特殊改进以适应便携式光谱仪的需要。它可以接收分析波长范围（170nm-530nm）的全部元素谱线，所测得的数据具有较高的精度和稳定性。光学系统中的各个器件，如光栅（焦距400mm）或高精度CCD/CMOS检测器，都被很好地固定和保护使仪器防尘、抗震，坚固耐用。具有分析精度高，操作方便，应用灵活，稳定性好，体积小，重量轻等特点。

手持式光谱仪被广泛的应用在合金检测，废料检测，说到废料检测，那其实在炉前的配料检测中，手持式光谱仪的应用就显得很有必要。

我们知道一些电子设备或多或少的都存在一定的辐射，但我们同时也知道这些辐射对我们的身体一般不会造成伤害，那么同样手持式X荧光光谱仪也存在一定的辐射的，但是只要我们遵循注意事项，它同样不会对我们身体产生任何的危害。

首先我们要寻找直读光谱仪故障产生的原因，操作时注意以下几点： 光路是密封的非真空状态，必须用静态氩气保护才能保证紫外线20min以下元素的准确分析。有时光路的静态氩气气路被阻或掉下，造成光路无静态氩；另外调节静态氩的气阀出现故障也会出现这现象。直读光谱仪开机使用时，必须保证氩气打开20min以上才能做狭缝扫描和工作曲线校准。因为时间太短会造成光路静态氩还没有达到饱和而造成200nm以下的元素光强值逐步增加的现象。原来校准的工作曲线会造成碳、磷、硫等元素含量偏高。

EDX-9000 是创想分析仪器有限公司自主研发生产的一款真空型能量色散型X 荧光光谱仪，快速、无损、精确、经济实惠，对均质样品无须制样，可进行无损测试。测试范围包括固体、粉末样品，目前可以应用于矿石、合金、水泥、炉渣、煤灰、耐火材料、中心实验室成品检验等领域。

EDX-9000 是创想分析仪器有限公司自主研发生产的一款真空型能量色散型 X 荧光光谱仪，快速、无损、精确、经济实惠，对均质样品无须制样，可进 行无损测试。测试范围包括固体、粉末样品，目前可以应用于矿石、合金、水泥、 炉渣、煤灰、耐火材料、中心实验室成品检验等领域。 测试方法采用标准曲线法，测试准确，偏差小。软件采用开放式设计，用户 可以根据自己需求添加新的标准曲线。仪器核心部件全部原装进口，保证仪器的良好的品质。