台式X荧光光谱仪是通过X射线管产生的X射线作为激光源，激发光源激发样品产生X荧光射线。根据荧光X射线的波长和强度来确定样品的化学组成。作为一种质量检测手段，X荧光光谱仪在我国各行各业应用越来越广泛。研究X荧光光谱仪在分析过程中的误差，提高仪器的分析准确度成为重要的课题。今天小编来给大家介绍下来自测试过程中试样的误差。

1、试样易磨性。有的试样易磨性较差，对测定构成影响。

2、试样成分。有的试样基本组成成分与标准试样组成成分不一致，也会影响测定结果。

3、基体效应。基体中其它元素对分析元素的影响，包括吸收和增强效应，吸收效应直接影响对分析元素的激发和分析元素的探测强度。增强效应使分析元素特征辐射增强。

4、不均匀性效应。X射线强度与颗粒大小有关，大颗粒吸收大，小颗粒吸收小，这是试样粒度的影响。

5、谱线干扰。各谱线系中谱线产生重叠、干扰，还有来自不同衍射级次的衍射线之间干扰。