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判断台式X荧光光谱仪性能的好坏不能片面!
发布时间:2024-01-25 点击:315

一台仪器特别是精细的仪器,它是由很多零部件组成的,我们需要明白评估一台台式X荧光光谱仪的好坏的标准是多重、综合的。大多数人判断的方面主要有可分析元素有哪些、分析时间长短等。但是我们往往会走入误区,刻意追求一些方面,接下来和创想小编一起来看看你是否走入了这几个误区吧。

误区1:片面追求高指标。

术业有专攻,一台仪器肯定是专门检测某些方面是比较好的。买一台仪器恨不得把元素周期表里的元素全测了,可实际应用的时候,只简单的测几种元素。
对于工业分析而言,被分析样品的种类是确定的,甚至是单一的,对结果的要求也是确定的。特别是一些企业,可能它的实验室永远就测试一两种样品、一两种元素,对于远远高出这些要求的指标的追求实际上是一种资源的浪费。如果被测元素是确定的且数量有限,固定道就可以解决,我们一味追求可变道,既多花了钱,又破坏了稳定性,还增加了分析时间。台式X荧光谱仪而言道数也并非越多越好。所以在购买X荧光光谱仪前,一定要清楚自己买来干什么,然后才能确定型号。

误区2:片面追求准确度。
往往我们会把结果准确度来作为仪器好坏的一个标准,甚至可能会在检测中过分追求精确度。这里小编要提醒大家,准确性固然重要,但作为工业分析而言,精密度决不可忽视,首先要关注的是精密度问题,也就是说,同一样品多次测量,其结果应有良好的一致性,每一测量结果与均值的差要足够小,至于测量值与真值的差,往往属于系统偏差,是可以进行数学校正的。

误区3:不重视稳定性和重现性。

所谓稳定性是指同一样品连续测量多次(通常为21次)的标准偏差,而重现性则是同一样品间隔较长时间后再次测量的结果之间的一致性。这两项指标是作为工业分析仪器的关键指标,工业分析的结果主要是用于生产过程的控制和参数调整,分析结果的相对变化直接关系着过程控制和调节。而相对变化的准确测量是建立在稳定性和重复性之上的。

误区4:片面追求分析时间短。

X射线测量是随机事件的统计测量,是由统计规律决定的,计数的量取决于测量时间,并直接决定着测量误差的大小,足够长的测量时间是测量精度的前提条件,为了保证测量精度,必须有足够的测量时间。

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