X射线荧光光谱仪有两种基本类型:能量色散型X荧光光谱仪(EDXRF）和波长色散型X荧光光谱仪(WDXRF)。

首先来说能量和波长是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。

能量色散型X荧光光谱仪（EDXRF），用X射线管产生原级X射线照射到样品上，所产生的特征X射线（荧光）这节进入SI(LI)探测器，便可以据此进行定性分析和定量分析。
波长色散型X荧光光谱仪（WDXRF）是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器做同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行特定分析和定量分析。其可以对复杂体进行多组同时鉴定，多用于地址勘探部门。

                                                                台式X荧光光谱仪

能量色散型X荧光光谱仪 是将X射线激发被测所有元素的荧光简单过滤后，全部进入到检测器中，利用仪器和软件来分出其中的光谱。如测的为元素周期表中相邻的两个元素，会因光谱重叠而产生测量误差。能量色散型仪器最大的优点是不破坏被测的材料或产品，也不需要专业人员操作，缺点是对铬和溴是总量测定（一般不影响使用，因为很多情况可以判定，如测铬总量超标，常可知是不是六价铬超标，特别是溴，如被作为阻燃剂加入，不管是那种溴，总量超标就不合格）。

波长色散X荧光光谱仪的波长法是因其激发出的荧光足够强，进到仪器中用来分析的光谱是单一元素（“过滤”了不需测的元素），不含其它元素的光谱，所以测量数据很准确。这种仪器的灵敏度比能量色散型高一个数量级，也就是说，所测的数据并不存在“灰色地域”，不存在测定后还需拿到检测机构复检。其缺点是，波长法需将被测材料粉碎压制成样本后测才准确。所以，用在材料厂最适合。