在使用台式X荧光光谱仪分析时，需要对其进行基体效应的校正，基体效应一直以来都是一个很麻烦的问题，但是随着计算机技术的不断发展，已对小型X荧光光谱分析法采用数学校正法来校正元素间的相互影响这个方法可分为三类：经验系数法、理论影响系数法和基本参数法。

经验系数法

这个方法是通过测定一定数量的一组标样(该组标样的元素含量应打破相关性)，根据所给出的组份化学分析值和测得的荧光强度数据，通过非线性ZUI小二乘法或者人工神经网络等数学模型，求得影响系数，来进行元素定量分析的方法。

理论影响系数法

理论a系数法是在20世纪70年代发展起来的，也是受计算工具的限制，人们总是寻找简单的数学模型，而又依从X荧光的基本理论。这种方理论影响系数法有多种模式，其数学模式是从Sherman方程推导出来的，只是各自采用了某种假设或者近似，目前应用比较广泛，可对基体情况变化较大的样品进行计算。

基本参数法

基本参数法是应用荧光X射线强度理论计算公式及原级X射线的光谱强度分布、质量吸收系数、荧光产额、吸收限跃迁因子和谱线分数等基本物理常数，通过复杂的数学迭代运算，把测量强度转换为元素含量的一种数学校正方法。该法影响因素复杂，计算量巨大，其计算准确性主要取决于理论相对强度计算的准确性。它需要的标样很少，但基本参数值的相对误差可达2%~5%，基体组成也不要求与标样相似，在适当条件下，使用单标样甚至不用标样也可以给出近似的可接受的结果。基本参数法可以有效的降低对标样数量的要求是少标样、无标样定量分析的根本。

以上就是使用台式X荧光光谱仪时，基体效应的校正方法。