X荧光光谱仪的探测器可分为高、中、低三挡，三种不同的探测器性能也有所不同。

高档探测器可以同时对不同浓度所有元素（一般从Na至U）进行检测，分辨率一般在150－180eV。可同时测定元素周期表中Na-U范围的任何元素。对痕量检测可达几个ppm量级。

前面那两档检测器，不能完全符合RoHS的要求，很多生产xrf的公司都宣称他们的仪器能对Na到U元素进行检测，但测试的时候能把na到u元素分开吗，我们都知道相邻元素会互相干扰，如果干扰了，你说做出来的数据会准确吗？

中档探测器有效检测元素数量稍多，对痕量元素较难检测，分辨率一般在200－300eV，一般用于检测的对象元素不是相邻元素，元素相邻较远（至少相隔1-2个元素以上），基体内各元素间影响较小。  

低档探测器有效检测元素数量少，对被测物质中微量元素较难检测，分辨率一般在700－1100eV，一般可分析材料基体中元素数量较少，元素间相邻较远，含量较高的单个元素。

SiPIN探测器、高纯硅晶体探测器的分辨率一般是200eV–270eV，电致冷或液氮致冷Si（Li）锂漂移硅晶体探测器的分辨率为140eV–165eV.电制冷不需要消耗液氮，但他制冷工艺复杂，价格也zui贵，靠消耗电来制冷，分辨率比液氮稍逊，但也完全符合rohs检测的要

求。液氮制冷需消耗液氮，使用起来不方便，但液氮的温度很低，操作者必须注意安全，但它的分辨率比电制冷稍好。这里我们还要看探测器的面积，探测器面积越大，效率越高。测试的时间就越短。市面上探测器面积有5—15mm2不等。很多XRF厂商都宣称他们

的仪器测试时间是3分钟，是出一个可靠的数据3分钟吗，还是减少测试条件，具体指减少滤光片的转换次数和livetime来达到减少测试时间。的确很多XRF的测试时间能达到3分钟，但出的数据是很差的。只有极少数仪器能达到这个水平。测试时间对RoHS这个行业

也是很重要的，因为很多厂家的需检测的产品比较多，一天可能有300多个，甚至更多。

如果购买了了一台低效率的X荧光光谱仪，你可能要再买几个才能满足你的测试量。