台式X荧光光谱仪是实验室常用的仪器,在工作原理中,荧光强度的变化会直接导致样品的测试结果,因为它本身就是利用X荧光强度的大小来判断元素含量。另外,影响X荧光光谱仪的测试结果还有其他的误差来源吗?
首先我们要讲的是一个常见的关于影响台式X荧光光谱仪荧光强度的因素,这个是来源于样品本身。它就是样品的颗粒大小。
纯物质的荧光强度随颗粒的减小而zeng大,在多元素体系中,已经证明一些元素的强度与吸收和增qiang效应有关,这些效应可以引起某些元素的强度增加和另一些元素的强度减小。这些都是会直接影响到zui后的测量结果。颗粒的大小和强度的变化可以总结成以下:
强度与研磨时间的关系:
①粒度的减小,引起铁、硫、钾的强度减小,而使钙、硅的强度增加。
②随着粒度减小至某一点,强度趋于稳定。
③较低原子序数的元素的强度随粒度的减小有较大的变化。
台式X荧光光谱仪测试位
另外,影响X荧光分析的其他误差来源。
1.采样误差:非均质材料、样品的代表性。
2.样品的制备:制样技术的稳定性、 产生均匀样品的技术。
3.不适当的标样:待测样品是否在标样的组成范围内、标样元素测定值的准确度、标样与样品的稳定性。
4.仪器误差:计数的统计误差、样品的位置、灵敏度和漂移、 重现性。
5.不适当的定量数学模型:不正确的算法、元素间的干扰效应未经校正颗粒效应。
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