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X荧光光谱仪在ROHS检测中的优劣势
发布时间:2021-08-16 点击:839

近年来,由于人们的环保意识不断提高,电子电气产品引发的环境污染问题也备受关注。而怎么检测出电子电气产品上受限制的有害物质,也是人们要了解的问题。创想X荧光光谱仪可以很好的检测出铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯、多嗅联苯醚这6种限制物质,但是有许多用户都不太清楚这款仪器是基于怎么样的原理来完成的,今天在这里,就要为大家介绍X荧光光谱仪在ROHS检测中的优缺点。

X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。
X射线管X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量,然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。

下面让我们来了解一下XRF-X射线荧光光谱仪的优缺点都有哪些?
XRF-X射线荧光光谱仪的优点主要有六个组成部分,他们分别是:
1.分析速度高  
测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,60~200分钟就可以测完样品中的Pb、Cd、Cr、Hg、Br、Cl、待测元素。
2.X射线荧光光谱跟样品化学结合状态无关
X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内,这种效应更为显着。波长变化用于化学位的测定。  
3.化学状态的改变  
非破坏分析在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量,结果重现性好。  
4.物理分析法  
X射线荧光分析是一种物理分析方法,所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。  
5.分析准确度高。  
制样简单,固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。  

而XRF-X射线荧光光谱仪的缺点却只有三项,他们分别是:  
1. 难于作绝对分析,故定量分析需要标样。 
2. 对轻元素的灵敏度要低一些。  
3.容易受相互元素干扰和叠加影响。

以上就是创想X荧光光谱仪在ROHS检测应用中的优缺点,创想仪器作为一家具有自主知识产权的创新型高科技上市企业,精益求精,以优秀的产品、优质的服务满足客户需求。,以优秀的产品、优质的服务满足客户需求。

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