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跟着这个步骤走,X射线荧光光谱仪的测试得心应手
发布时间:2022-06-20 点击:37

X射线荧光分析是一种物理分析方法,X射线荧光光谱仪是由激发系统,分光系统,探测系统和仪器控制和数据处理系统这几个主要部分构成。

激发系统主要是X射线管,可以发出原级X射线(一次X射线),用于照射样品激发荧光X射线。分光系统是对来自样品待测元素发出的特征荧光X射线进行分辨(主要为分光晶体);探测系统用于对样品待测元素的特征荧光X射线进行强度探测;仪器控制和数据处理系统用于处理探测器信号,给出分析结果。

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X射线荧光分析的原理

下面一起和小编来学习下X射线荧光光谱仪的测试步骤吧。

第一、选择分析方法与制样方法。分析方法有很多,一般有基本参数法、半基本参数法、经验系数法等。制样方法包括抛光法、压片法、滤纸片法和熔片法,我们一般常用粉末压片法制样,采用基本参数法测试。

第二、将制备好的样片装进样品杯,放入样品交换器中,自动进样至样品室,X射线管发出原级X射线照射样品,激发出待测元素的荧光X射线。

第三、样品辐射出的荧光X射线通过分光晶体,将X射线荧光光谱色散成孤立的单色分析线,由探测器测量各谱线的强度,根据选用的分析方法换算成元素浓度,得到样品中待测元素含量。

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