X荧光光谱仪已广泛应用于材料、冶金、地质、生物医学、环境监测、天体物理、文物考古、刑事侦察、工业生产等诸多领域，是一种快速、无损、多元素同时测定的分析技术，可为相关生产企业提供一种可行的、低成本的、及时的检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径。本文就x荧光光谱仪的工作原理及其应用做简单介绍。 

        X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度，也可以获得各元素的含量信息。

    近年来，X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，特别是在RoHS检测领域应用得*多也*广泛。

    大多数分析元素均可用其进行分析，可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品，分析范围为Be到U。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。 

       优点:
         1、分析速度高·测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,2-5分钟就可以测克样品中的全部待测元素。
         2 、  双射线泰光光谱跟样品的化学结合状志无关,而且跟固体 粉末.液体反晶质,非晶质等物质的状志也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分游率的精密测定中却可着到有波长变化等现象·特别是在超软刈对线范围内,这种效应吏为显著.波长变化用于化学位的测定
         3 、  非破坏分析。在测定中不会引起化学伏态的改变,也不会出现试样飞散现象。同一试样可反真多次测量,结果重现性好。
         4 、  X射线荧光分析是一种物理分析方法,所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。
         5 、  分析精密度高。
         6 、  制样简单,固体,粉末,液体样品等都可以进行分析。
       缺点:
        1 、  难于作绝对分析,故定量分析需要标样。
        2、对轻元素的灵敏度要低一些。
        3、容易受相互元素干扰和叠加峰影响。
        X荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)