x荧光光谱仪分析仪原理：

x荧光光谱仪分析仪是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态。

x荧光光谱仪分析仪简称光谱仪,就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光光谱仪。

台式X荧光光谱仪工作原理图

x荧光光谱仪分析仪分类：

根据类型不同，可以分为手持式X荧光光谱仪，便携式X荧光光谱仪，台式X荧光光谱仪分析仪。

根据分光方式的不同，X荧光光谱仪分析可分为能量色散和波长色散两类，也就是通常所说的能谱仪和波谱仪，缩写为EDXRF和WDXRF。

x荧光光谱仪分析仪图片：

x荧光光谱仪分析仪构造与组成： 

X射线发生器（X射线管、高压电源及稳定稳流装置）、分光检测系统（分析晶体、准直器与检测器）、记数记录系统（脉冲辐射分析器、定标计、计时器、积分器、记录器）。

不同元素具有波长不同的特征X射线谱，而各谱线的荧光强度又与元素的浓度呈一定关系，测定待测元素特征X射线谱线的波长和强度就可以进行定性和定量分析。本法具有谱线简单、分析速度快、测量元素多、能进行多元素同时分析等优点。