土壤重金属污染是环境监测的重点领域，台式X荧光光谱仪（XRF）凭借其多元素同步检测、无损分析等优势，成为土壤重金属检测的核心工具。其检测流程主要包括样品预处理、压片制样及仪器分析三个环节。

压片制样是确保检测准确性的关键步骤。首先，需将采集的土壤样品风干至恒重，以消除水分干扰。随后，使用玛瑙研钵将样品研磨至粒度小于200目（约75μm），确保颗粒均匀性。制样时，称取8-10g干燥土壤粉末，置于外径41mm、内径35mm的PVC塑料环中，加入适量微晶纤维素作为粘结剂，混合均匀后转移至压片机模具。在20-30吨压力下压制20-30秒，形成厚度约5mm的样片。此过程需严格控制压力与保压时间，避免样片开裂或密度不均。压片完成后，将样片置于干燥器中保存，防止吸潮影响检测结果。

重金属检测需结合仪器参数优化与基体效应校正。将制备好的样片放入X荧光光谱仪仪器测试仓，根据土壤基体类型选择对应的分析模式（如地质模式、环境模式）。仪器通过X射线激发土壤中的重金属元素，产生特征荧光信号，软件自动识别并定量分析铅、镉、汞、砷等元素含量。为提高精度，需定期使用国家标准土壤（如GSS系列）进行校准，并通过理论α系数法或经验系数法校正基体效应。例如，检测铜、锌等元素时，需调整激发电压与电流至50kV、600μA，确保信号强度与分辨率平衡。

与传统方法相比，X荧光光谱仪技术显著提升了检测效率。原子吸收光谱（AAS）、电感耦合等离子光谱仪（ICP-OES）等传统方法需复杂的前处理（如消解、萃取），耗时长达24小时，且易引入二次污染。而X荧光光谱仪技术可在10分钟内完成单一样品检测，支持批量样品的无人值守分析，尤其适用于野外应急监测与大规模筛查。尽管其精度略低于ICP-OES（检测限通常为ppm级），但通过优化制样与参数设置，仍可满足HJ 780-2015等环保标准的要求。

未来，随着自动进样装置与智能校正算法的普及，台式X荧光光谱仪将在土壤重金属检测中发挥更大作用，为环境治理提供更高效的技术支撑。