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X荧光光谱仪检测数据要规避这些因素
发布时间:2022-09-13 点击:145

一般来说X荧光光谱仪运用到的X射线荧光是一个表面分析的方法,它的分析方法是一个相对分析方法,这就要求任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性。因此测试人员在制样的时候得严格且精细,样品的分析面相对于整个样品要有代表性。

1、避免制备样品时发生误差和样品自身引起的误差:

(1) 样品的均匀性。

(2) 样品的表面效应。

(3) 粉末样品的粒度和处理方法。

(4) 样品中存在的谱线干扰。

(5) 样品本身的共存元素影响即基体效应。

(6) 样品的性质。

(7) 标准样品的化学值的准确性。

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X荧光光谱仪的分析原理图

2、了解一些引起样品误差的原因,做好规避:

(1)样品物理状态不同,样品的颗粒度、密度、光洁度不一样;样品的沾污、吸潮,液体样品的受热膨胀,挥发、起泡、结晶及沉淀等。

(2)样品的组分分布不均匀 样品组分的偏析、矿物效应等。

(3)样品的组成不一致 引起吸收、增强效应的差异造成的误差

(4)被测元素化学结合态的改变 样品氧化,引起元素百分组成的改变;轻元素化学价态不同时,谱峰发生位移或峰形发生变化引起的误差。

(5)制样操作 在制样过程中的称量造成的误差,稀释比不一致,样品熔融不完全,样品粉碎混合不均匀,用于合成校准或基准试剂的纯度不够等。

此外,样品的平均粒度和粒度分布;样品中是否存在不均匀的多孔状态等都需要测试人员的注意,可以说,在样品制备过程有很多步骤,X荧光光谱仪样品制得好,分析数据事半功倍!

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