使用台式X荧光光谱仪进行样品的检测过程中，会存在一定的干扰问题，那这些干扰都有哪些，让我们仪器来看一看。

1.在X射线荧光光谱仪的分析中，某些元素的谱线可能全部或部分重叠。基本参数方程要求使用不受线重叠影响的净强度。

2.在X射线光谱仪的分析中，某些元素之间可能存在元素间干扰或基体效应。补偿这些影响的经验方法是制备一系列浓度范围覆盖此分析范围的校准标准曲线。这时，我们需要仔细设计参考物料。也就是说，所有不需要分析的元素的含量是固定的，但是要分析的元素的浓度是不同的，这叫做基体匹配。当然，在X射线荧光光谱仪的分析中，可以用数学方法来补偿元素或基体之间的影响。

3.干扰也可能来自康普顿谱线或X射线管中靶材所产生的特征曲线，可以用滤轮去除，但是会在一定程度上降低分析谱线强度。

4.在X射线荧光光谱仪的分析中，由于目标元素的密度受样品的质量吸收系数的影响，干扰也可能来自金相组织的误差，数学模型假设材料是均匀的，这会导致误差。例如，在含有碳和碳化物的钢中，钛和镍可能以钛镍碳化物的形式存在。与铁相比，钛的K-a光谱具有较低的质量吸收系数，且钛的密度比铁的高。

5.对于X射线荧光光谱仪而言，分析偏差是由于样品的固相注射性质和表面性质与标准样品不同而引起的。

总之，样品与标准样品的差异越大，误差越大。所谓差异包括：基体材料的物理化学性质，如上述密度、结构、成分和浓度、表面状况，甚至试样中待测元素的含量是否在标样范围内、各试样的位置等，这些都会影响分析结果的准确性。