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手持式X荧光光谱仪能测碳含量吗?
发布时间:2019-07-11 点击:3795

很多用户都知道,手持式式光谱仪其无损检测的特性,被非常多的客户所青睐,但是相对于台式直读光谱仪,它是否可以测碳元素呢?

事实上,手持式光谱仪和台式直读光谱仪工作原理上是不一样 的,手持式光谱仪,分为手持式X荧光光谱仪和手持式LIBS激光诱导击穿光谱仪。而手持式X荧光光谱仪一般是不测碳元素的,而全谱直读光谱仪和手持式LIBS激光诱导击穿光谱仪是可以检测碳元素的。

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手持式X荧光光谱仪

手持式X荧光光谱仪的工作原理是:一种基于XRF光谱分析技术的光谱分析仪器,当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子从而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的状态,当较外层的电子跃迁到空穴时,产生一次光电子,击出的光子可能再次被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子,发生俄歇效应,亦称次级光电效应或无辐射效应。所逐出的次级光电子称为俄歇电子。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不被原子内吸收,而是以光子形式放出,便产生X射线荧光,其能量等于两能级之间的能量差。因此,射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。

只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特征信息。 

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全谱直读光谱仪

全谱直读光谱仪的工作原理是样品在激发光源下被激发, 其原子和离子跃迁发射出光, 进入光学系统被色散成元素的光谱线. 对选定的内标线和分析线的强度进行测量, 根据元素谱线强度与被测元素的浓度的相互 关系,采用持久曲线法和控制试样法得到试样中被测元素的含量。


手持式X荧光光谱仪和全谱直读光谱仪在检测精度啊上来说,因为各自的工作原理不同,手持式X荧光光谱仪因为其基于X射线荧光谱分析的原理,一般可以测F以后的大多数元素,对金属元素的测量较非金属元素来说要相对准确些,而F之前的元素则无法测量,属于半定量测量,准确定量需要绘制标准曲线。而全谱直读光谱仪测可以测量几乎全元素,而且相较于手持式光谱仪来说要准确一些。

所以我们在选购一款光谱仪时也要明确我们自己的检测需求,如果我们是以测全元素为主,而且要求检测精度非常高的话,我们建议选择全谱直读光谱仪,而如果我们一般常规检测是碳元素和其它部分非金属元素时我们更倾向于推荐手持式光谱仪,因为手持式光谱仪小巧、便携、无损、快速分特点还是非常不错的。

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