在铁合金的X荧光光谱分析中，样品制备是确保分析结果准确可靠的关键环节。由于铁合金成分复杂，且含有多种易与坩埚发生反应的元素，因此需采用特殊的制备方法以消除基体效应和矿物效应，提高测量精度。

对于铁合金样品，直接熔融易导致坩埚腐蚀，因此需先进行预氧化处理。预氧化通过加入氧化剂（如碳酸锂、硝酸钠等）将样品中的单质元素转化为高价氧化物，减少高温下对坩埚的侵蚀。例如，硅铁合金中的硅在842℃会与铂发生合金化反应，而预氧化后生成的二氧化硅则可避免这一问题。预氧化需严格控制温度和时间，确保氧化完全，否则残留的单质元素仍会腐蚀坩埚，影响分析结果。

X荧光光谱仪的分析中，熔融制样是消除颗粒效应和矿物效应的有效方法。将预氧化后的样品与熔剂（如四硼酸锂、偏硼酸锂）按比例混合，在高温下熔融成均匀的玻璃片。熔剂的选择需考虑样品的酸碱性及熔融后的玻璃片性能。例如，四硼酸锂熔点较高，能更好保护坩埚，且熔融后玻璃片成型性好；而偏硼酸锂则适用于酸性样品，熔片机械性能更佳。熔融过程中，样品中的多相体系转化为均一的单相固熔体，显著降低了基体效应，提高了测量准确性。

对于某些特殊铁合金，如含易挥发元素的样品，熔融制样可能不适用。此时可采用感应重熔离心浇铸法，将样品与纯铁粉混合后，在真空或保护气氛下感应加热熔化，再通过离心浇铸到模具中成型。该方法虽设备昂贵，但能消除颗粒效应，且可通过添加内标或稀释剂进一步校正基体效应。

样品制备完成后，需使用X荧光光谱仪进行测量。为确保结果准确，制备的校准样品应与分析样品在基体结构、矿物组成和元素含量范围上保持一致。通过建立准确的校准曲线，可实现对铁合金中主次元素的快速、准确分析。