- 随着X荧光光谱仪技术的发展, 其在矿石元素分析方面呈现出了巨大的优势, 现阶段, 越来越多的选矿工程选择使用X荧光光谱仪进行辅助检测。
- 在本文中, 我们重点对在选矿过程使用X荧光光谱仪分析技术的各种要素进行了介绍, 通过实验结果分析, X荧光光谱分析技术在多种矿石多元素分析中的应用前景是非常广泛, 有利于提高选矿领域的发展。在对于多种矿石进行多元素分析的过程中, 传统取样然后经过化学物理分析的方式存在一定的滞后性, 很大程度的限制了选矿施工所具有的指导意义。所以现在越来越多的企业选择使用X荧光光谱仪分析技术。

能量色散X荧光光谱仪
1、X荧光光谱仪分析在多种矿石多元素的分析当中技术的介绍
X荧光光谱仪技术在多矿石多元素分析中有多种方式, 下面我们主要介绍两种分析技术, 分别为多种矿石分析技术和双激发技术。
2、
X荧光光谱仪技术的基本流程
2.1 相关仪器的介绍
X荧光光谱仪作为一种相对测量的仪器, 它可以在测量一定数量的已知结果后建立精确的数学模型, 并得到准确的测量结果。正确的数学模型的建立需要依靠一组好样本, 能具有良好的代表性, 一定的跨度范围和准确结果。
2.2 实验样品制备要求
X射线荧光光谱法作为一种相对分析的方法, 样品的任何过程和步骤都有很好的重复操作性。用于校准曲线所需的分析样品与标准样品必须用同样的方法进行处理。X射线荧光实际上是一种表面分析方法。激发仅发生在样品的浅表面, 所以我们必须注意分析样品表面相是否具有代表性。另外, 样品粒度分布和样品的平均尺寸是否发生变化, 以及样品中是否存在不均匀多孔状态都应该提前进行考虑。样品准备过程中, 由于步骤繁琐, 也必须防止损失和污染样品。
X荧光光谱仪必须是固体样品和液体样品。在本文中主要介绍了固体样品的制备方法。主要有以下两种方法:
(1) 熔片法:该方法中常用到的氧化剂包括硝酸锂、硝酸钾、二氧化铈、二氧化钡和硝酸钠等, 这样可以防止铂合金坩埚被损坏。常用的脱模剂包括氟化锂、碘化钾、溴化钠、碘化铵、碘氢酸以及溴水等。它们能完全从坩埚中溶解熔融物质的玻璃体, 但不应添加太多的脱模剂, 否则, 玻璃体将经历结晶和破裂, 或形成球铸造时, 妨碍其扁平化。具体过程称量5.0 g无水四硼酸锂和1.0 g碳酸锂, 0.6g三氧化二钴粉以及0.6 g干燥试样, 然后在50 ml烧杯中加入1 g硝酸铵搅拌进入铂金坩埚, 预氧化5min后取出冷却, 加进去1 ml碘化铵 (500 g/L) 溶液。在冶炼炉中熔化曲线, 1 050温度下熔融变温10 min, , 冷却后贴上标签标定。
(2) 压片法:粉末样品通常是研磨成一定大小之后, 压制成圆形样品。有时加入粘合剂, 样品需要研磨均匀。采用粉末样品测定的样品的颗粒大小, 样品的尺寸普遍小于0.075 mm。该方法的主要缺点是研磨尺寸、矿物形成结构或粘结剂的加入, 使测量结果偏离准确值。

X荧光光谱仪分析法属于一种非破坏性仪器分析方法。广泛应用于耐火材料、钢铁、萤石、石灰石、铁矿石、矿渣以及地质等多种领域元素的测定。它是通过对已知结果的样品测量和建立正确的数学模型, 得到了精确分析结果的测量方法。
4、 X射线荧光技术实验结果及分析
首先, 在上述的实验过程当中, 我们可以看出X荧光分析法的操作相对稳定, 操作更方便, 实验结果误差小, 能更好地适应各种矿石多元素分析的要求。然而, 从我们得出的实验结果来看, 实验仍存在一些误差, 综合分析的原因如下:
(1) 实验所使用的样品变量不唯一
虽然在实验过程中选取了两组完全相同的实验样品进行对比试验, 但是由于矿物自身的特性, 及时我们精心选出的样品仍可能存在一些肉眼难以观察到的微量元素, 需要具体实验才能够对比出结果。在这种情况下, 实验组和对照组之间的微量差异很可能导致实验结果的误差。 (2) 环境、人员等外界因素差异
许多外部因素也会影响着实验的结果。比如说实验工作人员的具体操作方式、所处的外界环境、温度等因素的不稳定性, 造成实验结果与准确值存在着一定的误差。
5 、结论
X荧光光谱仪技术的运用, 成功实现了多矿石多元素的分析。尤其运用X光管作为激发光源的X荧光分析技术有着显著的技术优势, 并将在该领域的市场上长期处于领先的地位。目前我国已经运用了X射线探测器和高性能、高压电源的X射线管, 有助于国内的X荧光分析仪研制与应用。因此, 我们需要重视起X荧光分析技术在矿物领域的运用, 争取通过研制能够克服测量过程中存在的误差, 得到更为精确的结果, 促进我国矿物领域的发展。