服务 > 学术交流 > 关于X荧光光谱仪的定量与定性分析的区别
关于X荧光光谱仪的定量与定性分析的区别
发布时间:2020-03-13 点击:1


事实上,X荧光光谱仪在定性分析时,可以靠计算机自动识别谱线,给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干扰时,仍需人工鉴别。首先识别出X射线管靶材的特征X射线和强峰的伴随线,然后根据角标注剩斜谱线。在分析未知谱线时,要同时考虑到样品的来源,性质等因素,以便综合判断。

 

X荧光光谱仪进行定量分析的依据是元素的荧光X射线强度I1与试样中该元素的含量Wi成正比:Ii=IsWi 式中,IsWi=100%时,该元素的荧光X射线的强度。根据上式,可以采用标准曲线法,增量法,内标法等进行定量分析。

不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长,因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪,对于一定晶面间距的晶体,由检测器转动的角可以求出X射线的波长λ,从而确定元素成分。

 https://cxyq.imwsoft.cn/20200313093501-FneLA1apXqH53Xgwmgn329-aFJYi.jpg

手持式X荧光光谱仪

例如,在测定不锈钢中FeNi等元素时,由于一次X射线的激发会产生NiKα荧光X射线,NiKα在样品中可能被Fe吸收,使Fe激发产生FeKα,测定Ni时,因为Fe的吸收效应使结果偏低,测定Fe时,由于荧光增强效应使结果偏高。但是,配置相同的基体又几乎是不可能的。为克服这个问题,目前X荧光光谱仪定量方法一般采用基本参数法。该办法是在考虑各元素之间的吸收和增强效应的基础上,用标样或纯物质计算出元素荧光X射线理论强度,并测其荧光X射线的强度。将实测强度与理论强度比较,求出该元素的灵敏度系数,测未知样品时,先测定试样的荧光X射线强度,根据实测强度和灵敏度系数设定初始浓度值,再由该浓度值计算理论强度。将测定强度与理论强度比较,使两者达到某一预定精度,否则要再次修正,该法要测定和计算试样中所有的元素,并且要考虑这些元素间相互干扰效应,计算十分复杂。 因此,必须依靠计算机进行计算。

 

上述这些方法都要使标准样品的组成与试样的组成尽可能相同或相似,否则试样的基体效应或共存元素的影响,会给测定结果造成很大的偏差。所谓基体效应是指样品的基本化学组成和物理化学状态的变化对X射线荧光强度所成的影响。化学组成的变化,会影响样品对一次X射线和X射线荧光的吸收,也会改变荧光增强效应。

上述方法可以认为是无标样定量分析。当欲测样品含量大于1%时,其相对标准偏差可小于1%。

下一篇: 没有了

国内

0510-83205379

0510-66882099

13301511032

国际

0510-68795132

15106177808

无锡市滨湖区胡埭工业园南区富润路8

wuxi@chxyq.com

0510-83213469

友情链接: 氨气检测仪 臭氧试验箱 盐雾箱 拉力试验机 串联谐振 干式螺杆真空泵 开平机 室外灭蚊灯 测力计 聚四氟乙烯薄膜 农药残留检测仪 粮油仪器 工业气体 荧光光谱仪 光谱仪 共模电感 氮吹仪 振动分析仪 制氮机 真空烘箱 污水处理设备生产厂家 拉曼光谱仪 苏州在职研究生 冷却塔填料 农药残留速测仪 电子万能试验机
- 版权所有:无锡创想分析仪器有限公司 苏ICP备16025720号-4 全国统一免费售后服务热线:

400-0833-980  

地址:

无锡市滨湖区胡埭工业园南区富润路8

Copyright copy: 2019 wxcxfx.com studio All Rights Reserved-  技术支持:江苏麦维智能科技有限公司